ANALISI DEI RISULTATI DEL TEST

Le condizioni che ci permettono di distinguire il componente e il suo buono stato sono le seguenti:

Se una od entrambe queste condizioni si verificano senza premere il pulsante P1, ossia senza inviare il necessario impulso di tensione al gate, bisogna dedurre che il componente in esame è difettoso, probabilmente in cortocircuito. Se invece, pur premendo il pulsante P1, nessun elemento ottico si illumina, allora si puo dedurre che il semiconduttore in prova è anche in questo caso difettoso e con tutta probabilità aperto in uno dei suoi elettrodi.

Condizione di test: Tipo dispositivo ignoto ma si conosce la posizione degli elettrodi

Quando del componente si ignora il tipo, ossia non si sa se si tratta di un SCR o di un TRIAC, ma si conosce la disposizione dei terminali, allora l'esame con il dispositivo di figura 1 é abbastanza rapido. In tal caso, se il componente e' funzionante, allora l'esito del test deve essere uno di quelli riportati nella tabella precedente. Quindi e' facile risalire al componente. Se invece E l'esito può essere uno di quelli precedentemente citato, che segnala all'operatore di trovarsi in presenza di uno dei due tipi di semiconduttori.

Condizione di test: Tipo di dispositivo e disposizione elettrodi ignota

Ma se non si conosce l'esatta disposizione dei terminali, allora si debbono effettuare dei tentativi di inserimento degli elettrodi nelle rispettive boccole. Questi tentativi, che in nessun caso possono danneggiare lo SCR o il TRIAC. Il numero dei tentativi e' sei, perché sono tre i piedini di ciascun componente (3x2=6).

Nel caso di un SCR, tenendo conto che nello schema di figura 1 i terminali sono indicati con K-A-G, le combinazioni sono le seguenti:

K - G - A, K - G - A, A - G - K, A-  K - G, G - K - A, G - A - K

Per il TRIAC invece, ricordando che i terminali sono stati indicati con le lettere A1-A2-G, le combinazioni sono le seguenti:

A1- A2- G, A1- G - A2, A2 - A1- G, A2 - G - A1, G - A1 - A2, G - A2 - A1